Beskrivelse
Til måling af pladetykkelser, depressioner og krumningsradier af sfæriske overflader, for eksempel linser. Enheden består af et stativ med tre stål spidser, som danner en ligesidet trekant. En mikrometer skrue med en målings spids er forsænket i midten. En skive er forbundet til mikrometerskruen med cirkulærer inddelinger fra 0 til 500 og en lodret skala med millimeter inddelinger fra -10 til 15 mm. Monteret på stativ.
Specifikationer :
Måleområder : 0 – 25 mm og -10 – 15 mm
Skrue stigning : 0,5 mm
Målenøjagtighed : 0,001 mm
Understøtningsafstand : 50 mm
